靜電放電抗擾度測試嚴(yán)酷度的提高 

1、IEC61000-4-2 中規(guī)定的靜電試驗(yàn)，模擬了帶電的人體的靜電放電， 評價(jià)其是否會造成被測物的正常動作失效或是損壞。

2、具體的實(shí)驗(yàn)方法是，將儲存在電容里的靜電直接或是通過試驗(yàn)用治具 的形式間接地釋放出來。由于這個施加的靜電干擾具有快速的上升時(shí)間且包含 GHz 級別的寬帶高頻成分，與單純的耐壓試驗(yàn)不同，是能 夠產(chǎn)生二次高頻電磁波的耐性試驗(yàn)。因此，這是一種如果沒有充分考 慮對策就很容易導(dǎo)致產(chǎn)品不良的極為嚴(yán)苛的試驗(yàn)。

電快速脈沖群測試嚴(yán)酷度的提高 

1、提高測試脈沖頻率 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定測試脈沖頻率是5kHz和100kHz，但是標(biāo)準(zhǔn)在 附錄中也提到了電快速脈沖群是模擬電火花，現(xiàn)實(shí)中實(shí)際頻 率應(yīng)該是在1MHz左右。這也是為什么眾多EMC設(shè)備制造商 的EFT測試設(shè)備頻率只做到了1MHz。 然而現(xiàn)在科技的進(jìn)步，5kHz和100kHz的測試頻率是無法全部滿足產(chǎn)品設(shè)計(jì)的需要的。同時(shí)為了增加嚴(yán)格程度， NOISEKEN做了一款2MHz頻率的電快速瞬變脈沖群抗擾度設(shè)備。 提高測試頻率，相當(dāng)于在單位時(shí)間內(nèi)，脈沖群的個數(shù)增 加了。會導(dǎo)致晶體管的結(jié)電容無法充分的放電，最終被復(fù)數(shù) 的脈沖電壓擊穿。導(dǎo)致產(chǎn)品在實(shí)際運(yùn)行時(shí)造成故障

2、其他可變化的測試 雖然IEC標(biāo)準(zhǔn)中只規(guī)定了共模，沒有提到差模干擾，但是 結(jié)合實(shí)際情況差模干擾也有實(shí)際可能存在的。例如：ANSI C37.90標(biāo)準(zhǔn)中就有差模測試的要求。所以NOISEKEN提供了 脈沖群（EFT）差模選件15-00013A差模耦合盒。

3、和電壓有關(guān)的嚴(yán)酷度提高 除了頻率提升是EFT測試的一種辦法，NOISEKEN還提供 一種提升電壓等級的辦法 —— 高頻噪聲抗擾度模擬器。

a) 干擾施加方式：脈沖群只有共模干擾；而高頻有共模和差模干擾兩種。 

b) 脈沖寬度：脈沖群只有50ns；高頻最大1000ns 

c) 輸出頻率：脈沖群最大頻率1MHz；高頻最大100Hz 

d) 輸出電壓：高頻 = 2 × 脈沖群。高頻的4kV = 脈沖群的8kV 脈沖群顯示的是開路電壓； 高頻顯示的是50Ω阻抗?fàn)顟B(tài)下電壓。

注：高頻主要以單個大能量波形來干擾EUT；脈沖群以頻率來干擾EUT。 所以，如果EFT測試無法解決問題，可以試用高頻噪聲抗擾度模擬器。